Результаты нового исследования могут помочь миллионам людей, которые не в состоянии контролировать приступы эпилепсии.
Команда биомедицинских инженеров и исследователей из клиники Майо (Mayo Clinic) при университете University of Minnesota опубликовала новаторские исследования, которые описывают, как новый тип неинвазивного (непроникающего) сканирования мозга дает дополнительные понимание возможных причин и методов лечения эпилепсии.
Исследование было опубликовано в онлайн-журнале Brain, ведущем журнале международной неврологии. Результаты исследования свидетельствуют:
"Это первое в истории исследование, в котором неинвазивные методы были использованы для изучения состояния пациентов после приступа, а не во время него", - рассказал Бин Хи (Bin He), профессор биомедицинского машиностроения в коллеже University of Minnesota's College of Science and Engineering и старший автор исследования. "Это действительно новый подход в исследования эпилепсии".
Эпилепсия затрагивает почти 50 миллионов людей во всем мире. В то время как лекарства и другие методы лечения многим помогают, все же 17 миллионов продолжают страдать от проблем, которые серьезно ограничивают их жизни.
Сложность в изучении эпилепсии заключается в том, чтобы найти часть мозга, ответственную за припадки. В прошлом, большинство методов было направлено на изучение пациента в состоянии припадка, известного как "иктальная" фаза приступа.
Ученые клиники Майо использовали новый подход, изучая мозг 28 пациентов сразу после припадков, в "постиктальную" фазу приступа. Они использовали специализированный тип неинвазивного ЭЭГ с 76 электродами, прикрепленными к коже головы для сбора данных. Были использованы специализированные технологии визуализации для сбора данных о пациенте.
"Технологии визуализации, которые мы разработали здесь, в университете Миннесоты, позволили нам собрать данные: мы нашли несколько тысяч важных точек, и это помогло сделать верные выводы в наших исследованиях", - подчеркнул профессор Бин Хи.
Опубликовано: webapteka.by 28 августа 2012
РЕКОМЕНДУЕМ: